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集成電路(IC)卡中非接觸式IC卡測試方法檢測

  • 樣品名稱：集成電路(IC)卡

  • 檢測項目：非接觸式IC卡測試方法

  • 認(rèn)可資質(zhì)：CNAS CMA

  • 檢測標(biāo)準(zhǔn)：ISO/IEC 10373-6:2001/ Amd.4:2006 識別卡－測試方法－第6部分：鄰近卡 補(bǔ)充版4：PCD RF接口和PICC交變場暴光的附加測試方法

  • 所屬行業(yè)分類：

  • 標(biāo)簽： 非接觸式IC卡測試方法 集成電路(IC)卡

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