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中國電子科技集團(tuán)公司第十研究所天奧校準(zhǔn)/檢測實驗室
四川省成都市
樣品名稱:電子元器件
檢測項目:粒子碰撞噪聲檢測試驗
認(rèn)可資質(zhì):CNAS CMA
檢測標(biāo)準(zhǔn):半導(dǎo)體分立器件試驗方法GJB128A-1997 方法2006
所屬行業(yè)分類:
標(biāo)簽: 粒子碰撞噪聲檢測試驗 電子元器件