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中國(guó)電子科技集團(tuán)公司第十研究所天奧校準(zhǔn)/檢測(cè)實(shí)驗(yàn)室
四川省成都市
樣品名稱:電子元器件
檢測(cè)項(xiàng)目:粒子碰撞噪聲檢測(cè)試驗(yàn)
認(rèn)可資質(zhì):CNAS CMA
檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn):微電路試驗(yàn)方法和程序GJB548B-2005 方法2020.1
所屬行業(yè)分類:
標(biāo)簽: 粒子碰撞噪聲檢測(cè)試驗(yàn) 電子元器件