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中國電子科技集團公司第十研究所天奧校準/檢測實驗室
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樣品名稱:電子元器件
檢測項目:密封(氦質譜檢漏)
認可資質:CNAS CMA
檢測標準:電子及電氣元件試驗方法GJB360B-2009方法108
所屬行業(yè)分類:
標簽: 密封(氦質譜檢漏) 電子元器件
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