您當(dāng)前的位置:首頁 > 中國電子科技集團(tuán)公司第十研究所天奧校準(zhǔn)/檢測實(shí)驗(yàn)室 > 電子元器件中密封(氦質(zhì)譜檢漏)檢測
中國電子科技集團(tuán)公司第十研究所天奧校準(zhǔn)/檢測實(shí)驗(yàn)室
四川省成都市
樣品名稱:電子元器件
檢測項(xiàng)目:密封(氦質(zhì)譜檢漏)
認(rèn)可資質(zhì):CNAS CMA
檢測標(biāo)準(zhǔn):電子及電氣元件試驗(yàn)方法GJB360B-2009方法108
所屬行業(yè)分類:
標(biāo)簽: 密封(氦質(zhì)譜檢漏) 電子元器件