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樣品名稱:半導(dǎo)體分立器件、集成電路、光電器件
檢測項目:絕緣電阻
認(rèn)可資質(zhì):CNAS CMA
檢測標(biāo)準(zhǔn):《軍用電子元器件破壞性物理分析方法》GJB4027A-2006
所屬行業(yè)分類:電子電氣
標(biāo)簽: 絕緣電阻 半導(dǎo)體分立器件、集成電路、光電器件
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