您當(dāng)前的位置:首頁 > 貴州航天計量測試技術(shù)研究所 > 半導(dǎo)體分立器件、集成電路、光電器件中介質(zhì)耐電壓檢測
樣品名稱:半導(dǎo)體分立器件、集成電路、光電器件
檢測項目:介質(zhì)耐電壓
認(rèn)可資質(zhì):CNAS CMA
檢測標(biāo)準(zhǔn):《軍用電子元器件破壞性物理分析方法》GJB4027A-2006
所屬行業(yè)分類:電子電氣
標(biāo)簽: 介質(zhì)耐電壓 半導(dǎo)體分立器件、集成電路、光電器件