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樣品名稱:機(jī)柜、機(jī)箱、殼體、材料、方艙、屏蔽室、屏蔽暗室
檢測項(xiàng)目:場地衰減
認(rèn)可資質(zhì):CNAS CMA
檢測標(biāo)準(zhǔn):(72) CISPR 16-1-4:2012《無線電干擾和抗擾度測量儀器和方法規(guī)范—Part 1-4:無線電干擾和抗擾度測量儀器—輔助設(shè)備 —輻射干擾》
所屬行業(yè)分類:電子電氣
標(biāo)簽: 場地衰減 機(jī)柜、機(jī)箱、殼體、材料、方艙、屏蔽室、屏蔽暗室