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半導體集成電路中高溫貯存檢測

  • 樣品名稱：半導體集成電路

  • 檢測項目：高溫貯存

  • 認可資質：CNAS CMA

  • 檢測標準：電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分： 試驗方法 試驗Fc和導則： 振動（正弦） GB/T2423.10-2008

  • 所屬行業(yè)分類：電子電氣 > 電子元件檢測 >

  • 標簽： 高溫貯存 半導體集成電路

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