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集成電路中輸出低電平轉三態(tài)時間檢測

  • 樣品名稱:集成電路

  • 檢測項目:輸出低電平轉三態(tài)時間

  • 認可資質:CNAS CMA

  • 檢測標準:半導體集成電路TTL電路測試方法的基本原理SJ/T10735-1996 半導體集成電路MOS隨機存儲器測試方法的基本原理 SJ/T10739-1996 半導體集成電路雙極型隨機存儲器測試方法的基本原理 SJ/T10740-1996 半導體集成電路CM

  • 所屬行業(yè)分類:電子電氣 > 電子元件檢測 >

  • 標簽: 輸出低電平轉三態(tài)時間 集成電路

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