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密封半導體集成電路中芯片粘接的超聲檢測檢測

  • 樣品名稱：密封半導體集成電路

  • 檢測項目：芯片粘接的超聲檢測

  • 認可資質(zhì)：CNAS CMA

  • 檢測標準：GJB 4027A-2006 《軍用電子元器件破壞性物理分析方法 》

  • 所屬行業(yè)分類：電子電氣

  • 標簽： 芯片粘接的超聲檢測 密封半導體集成電路

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