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密封半導(dǎo)體集成電路中掃描電子顯微鏡(SEM)檢查檢測(cè)

  • 樣品名稱：密封半導(dǎo)體集成電路

  • 檢測(cè)項(xiàng)目：掃描電子顯微鏡(SEM)檢查

  • 認(rèn)可資質(zhì)：CNAS CMA

  • 檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)：GJB 4027A-2006 《軍用電子元器件破壞性物理分析方法 》

  • 所屬行業(yè)分類：電子電氣

  • 標(biāo)簽： 掃描電子顯微鏡(SEM)檢查 密封半導(dǎo)體集成電路

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