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密封半導(dǎo)體集成電路中剪切強(qiáng)度檢測

  • 樣品名稱：密封半導(dǎo)體集成電路

  • 檢測項(xiàng)目：剪切強(qiáng)度

  • 認(rèn)可資質(zhì)：CNAS CMA

  • 檢測標(biāo)準(zhǔn)：GJB 4027A-2006 《軍用電子元器件破壞性物理分析方法 》

  • 所屬行業(yè)分類：電子電氣

  • 標(biāo)簽： 剪切強(qiáng)度 密封半導(dǎo)體集成電路

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