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半導(dǎo)體 集成電路外殼中引線試驗(yàn)檢測(cè)

  • 樣品名稱:半導(dǎo)體 集成電路外殼

  • 檢測(cè)項(xiàng)目:引線試驗(yàn)

  • 認(rèn)可資質(zhì):CNAS CMA

  • 檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn):半導(dǎo)體集成電路外殼總規(guī)范 GJB1420A-1999 半導(dǎo)體集成電路外殼通用規(guī)范 GJB1420B-2011

  • 所屬行業(yè)分類:

  • 標(biāo)簽: 引線試驗(yàn) 半導(dǎo)體 集成電路外殼

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