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樣品名稱:半導(dǎo)體 集成電路外殼
檢測項目:鍵合強(qiáng)度
認(rèn)可資質(zhì):CNAS CMA
檢測標(biāo)準(zhǔn):半導(dǎo)體集成電路外殼總規(guī)范 GJB1420A-1999 半導(dǎo)體集成電路外殼通用規(guī)范 GJB1420B-2011
所屬行業(yè)分類:
標(biāo)簽: 鍵合強(qiáng)度 半導(dǎo)體 集成電路外殼