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集成電路： (TTL、CMOS、A/D、D/A、存儲(chǔ)器、接口、運(yùn)放、比較器、集成穩(wěn)壓器、電壓基準(zhǔn)等)中功能及部分電參數(shù)測(cè)試檢測(cè)

• 樣品名稱：集成電路： (TTL、CMOS、A/D、D/A、存儲(chǔ)器、接口、運(yùn)放、比較器、集成穩(wěn)壓器、電壓基準(zhǔn)等)

• 檢測(cè)項(xiàng)目：功能及部分電參數(shù)測(cè)試

• 認(rèn)可資質(zhì)：CNAS CMA

• 檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)：微電子器件試驗(yàn)方法和程序GJB548B-2005中4.5節(jié)及產(chǎn)品手冊(cè)要求

• 所屬行業(yè)分類：

• 標(biāo)簽： 功能及部分電參數(shù)測(cè)試 集成電路： (TTL、CMOS、A/D、D/A、存儲(chǔ)器、接口、運(yùn)放、比較器、集成穩(wěn)壓器、電壓基準(zhǔn)等)