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樣品名稱:電阻器、電容器、電位器及PCBA 失效分析
檢測項(xiàng)目:外部檢查
認(rèn)可資質(zhì):CNAS CMA
檢測標(biāo)準(zhǔn):微電路的失效分析程序 微電路試驗(yàn)方法標(biāo)準(zhǔn)方法 MIL-STD-883G-2006
所屬行業(yè)分類:電子電氣
標(biāo)簽: 外部檢查 電阻器、電容器、電位器及PCBA 失效分析