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樣品名稱:微波暗室
檢測(cè)項(xiàng)目:場(chǎng)均勻性
認(rèn)可資質(zhì):CNAS CMA
檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn):電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 射頻電磁場(chǎng)輻射抗擾度試驗(yàn) GB/T17626.3-2006/ IEC61000-4-3:2002
所屬行業(yè)分類:電子電氣
標(biāo)簽: 場(chǎng)均勻性 微波暗室