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半電波暗室、全暗室中歸一化場地衰減檢測

  • 樣品名稱:半電波暗室、全暗室

  • 檢測項目:歸一化場地衰減

  • 認可資質(zhì):CNAS CMA

  • 檢測標(biāo)準:GB/T 6113.104-2008無線電騷擾和抗擾度測量設(shè)備和測量方法規(guī)范 第1-4部分:無線電騷擾和抗擾度測量設(shè)備 輔助設(shè)備 輻射騷擾 GB 9254-2008 信息技術(shù)設(shè)備的無線電騷擾限值和測量方法 GB17626.3-2006 電磁兼容 試驗和測量

  • 所屬行業(yè)分類:電子電氣

  • 標(biāo)簽: 歸一化場地衰減 半電波暗室、全暗室

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