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半導(dǎo)體集成 電路 (CMOS)中輸入低電平電流IIL檢測

• 樣品名稱：半導(dǎo)體集成 電路 (CMOS)

• 檢測項(xiàng)目：輸入低電平電流IIL

• 認(rèn)可資質(zhì)：CNAS CMA

• 檢測標(biāo)準(zhǔn)：半導(dǎo)體集成電路CMOS電路測試方法的基本原理SJ/T10741-2000

• 所屬行業(yè)分類：

• 標(biāo)簽： 輸入低電平電流IIL 半導(dǎo)體集成 電路 (CMOS)