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電工電子產(chǎn)品（元器件）（環(huán)境試驗(yàn)、著火危險(xiǎn)等試驗(yàn)）中相比電痕化指數(shù)和耐電痕化指化指數(shù)檢測(cè)

• 樣品名稱：電工電子產(chǎn)品（元器件）（環(huán)境試驗(yàn)、著火危險(xiǎn)等試驗(yàn)）

• 檢測(cè)項(xiàng)目：相比電痕化指數(shù)和耐電痕化指化指數(shù)

• 認(rèn)可資質(zhì)：CNAS CMA

• 檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)：固體絕緣材料在潮濕條件下相比電痕化指數(shù)和耐電痕化指數(shù)的測(cè)定方法 IEC 60112 :2009 GB/T 4207-2003

• 所屬行業(yè)分類：

• 標(biāo)簽： 相比電痕化指數(shù)和耐電痕化指化指數(shù) 電工電子產(chǎn)品（元器件）（環(huán)境試驗(yàn)、著火危險(xiǎn)等試驗(yàn)）