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半導(dǎo)體集成電路模擬開關(guān)中粒子碰撞噪聲檢測試驗檢測

  • 樣品名稱：半導(dǎo)體集成電路模擬開關(guān)

  • 檢測項目：粒子碰撞噪聲檢測試驗

  • 認(rèn)可資質(zhì)：CNAS CMA

  • 檢測標(biāo)準(zhǔn)：半導(dǎo)體集成電路模擬開關(guān)測試方法的基本原理　GB/T14028-92 半導(dǎo)體集成電路CMOS電路測試方法的基本原理 SJ/T10741-2000

  • 所屬行業(yè)分類：電子電氣 > 電子元件檢測 >

  • 標(biāo)簽： 粒子碰撞噪聲檢測試驗 半導(dǎo)體集成電路模擬開關(guān)

半導(dǎo)體集成電路模擬開關(guān)中粒子碰撞噪聲檢測試驗更多檢測機構(gòu)

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