您當(dāng)前的位置:首頁(yè) > 西安東風(fēng)儀表廠可靠性試驗(yàn)檢測(cè)中心 > 半導(dǎo)體集成電路模擬開(kāi)關(guān)中導(dǎo)通電阻路差檢測(cè)
樣品名稱:半導(dǎo)體集成電路模擬開(kāi)關(guān)
檢測(cè)項(xiàng)目:導(dǎo)通電阻路差
認(rèn)可資質(zhì):CNAS CMA
檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn):微電子器件試驗(yàn)方法和程序GJB548B-2005
所屬行業(yè)分類:電子電氣 > 電子元件檢測(cè) >
標(biāo)簽: 導(dǎo)通電阻路差 半導(dǎo)體集成電路模擬開(kāi)關(guān)