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半導體集成電路外殼中穩(wěn)態(tài)壽命檢測

  • 樣品名稱：半導體集成電路外殼

  • 檢測項目：穩(wěn)態(tài)壽命

  • 認可資質：CNAS CMA

  • 檢測標準：微電子器件試驗方法和程序 　GJB548B-2005方法1015.1

  • 所屬行業(yè)分類：電子電氣 > 環(huán)境試驗 >

  • 標簽： 穩(wěn)態(tài)壽命 半導體集成電路外殼

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