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半導體集成電路外殼中靜電放電敏感度檢測

  • 樣品名稱：半導體集成電路外殼

  • 檢測項目：靜電放電敏感度

  • 認可資質：CNAS CMA

  • 檢測標準：電子及電氣元件試驗方法　 GJB360A-1996 方法302

  • 所屬行業(yè)分類：電子電氣 > 環(huán)境試驗 >

  • 標簽： 靜電放電敏感度 半導體集成電路外殼

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