您當(dāng)前的位置:首頁(yè) > 華東光電集成器件研究所計(jì)量測(cè)試中心 > 電子元器件中粒子碰撞噪聲檢測(cè)檢測(cè)
樣品名稱:電子元器件
檢測(cè)項(xiàng)目:粒子碰撞噪聲檢測(cè)
認(rèn)可資質(zhì):CNAS CMA
檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn):微電子器件試驗(yàn)方法和程序 GJB548B-2005方法1001
所屬行業(yè)分類:電子電氣 > 環(huán)境試驗(yàn) >
標(biāo)簽: 粒子碰撞噪聲檢測(cè) 電子元器件