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半導(dǎo)體集成電路外殼中部分項(xiàng)目檢測(cè)

  • 樣品名稱(chēng)：半導(dǎo)體集成電路外殼

  • 檢測(cè)項(xiàng)目：部分項(xiàng)目

  • 認(rèn)可資質(zhì)：CNAS CMA

  • 檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)：微電子器件試驗(yàn)方法和程序　 GJB548A-1996方法5005A

  • 所屬行業(yè)分類(lèi)：電子電氣 > 電子元件檢測(cè) >

  • 標(biāo)簽： 部分項(xiàng)目 半導(dǎo)體集成電路外殼

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