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微電子器件中掃描電子顯微技術(shù)和電子束顯微分析檢測

  • 樣品名稱：微電子器件

  • 檢測項(xiàng)目：掃描電子顯微技術(shù)和電子束顯微分析

  • 認(rèn)可資質(zhì)：CNAS CMA

  • 檢測標(biāo)準(zhǔn)：微電子器件試驗(yàn)方法和程序 GJB 548B-2005 半導(dǎo)體分立器件試驗(yàn)方法 GJB 128A-1997 軍用電子元器件破壞性物理分析方法 GJB 4027A-2006

  • 所屬行業(yè)分類：電子電氣

  • 標(biāo)簽： 掃描電子顯微技術(shù)和電子束顯微分析 微電子器件

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