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微電子器件中結(jié)構(gòu)缺陷的X射線檢查檢測

  • 樣品名稱：微電子器件

  • 檢測項(xiàng)目：結(jié)構(gòu)缺陷的X射線檢查

  • 認(rèn)可資質(zhì)：CNAS CMA

  • 檢測標(biāo)準(zhǔn)：微電子器件試驗(yàn)方法和程序 GJB 548B-2005 微電子器件試驗(yàn)方法標(biāo)準(zhǔn) MIL-STD 883H-2010

  • 所屬行業(yè)分類：電子電氣

  • 標(biāo)簽： 結(jié)構(gòu)缺陷的X射線檢查 微電子器件

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