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微電子器件中X射線照相檢測(cè)

  • 樣品名稱：微電子器件

  • 檢測(cè)項(xiàng)目：X射線照相

  • 認(rèn)可資質(zhì)：CNAS CMA

  • 檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)：微電子器件試驗(yàn)方法和程序 GJB 548B-2005 微電子器件試驗(yàn)方法標(biāo)準(zhǔn) MIL-STD-883H-2010 軍用電子元器件破壞性物理分析方法 GJB 4027A-2006 電子、電磁和機(jī)電元器件破壞性物理分析方法 MIL-STD-1580

  • 所屬行業(yè)分類：電子電氣

  • 標(biāo)簽： X射線照相 微電子器件

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