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微電子器件中X射線照相檢測

  • 樣品名稱：微電子器件

  • 檢測項目：X射線照相

  • 認可資質：CNAS CMA

  • 檢測標準：微電子器件試驗方法和程序 GJB 548B-2005 微電子器件試驗方法標準 MIL-STD-883H-2010 軍用電子元器件破壞性物理分析方法 GJB 4027A-2006 電子、電磁和機電元器件破壞性物理分析方法 MIL-STD-1580

  • 所屬行業(yè)分類：電子電氣

  • 標簽： X射線照相 微電子器件

微電子器件中X射線照相更多檢測機構

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