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集成電路/微電子器件中閾值試驗(yàn)檢測

  • 樣品名稱：集成電路/微電子器件

  • 檢測項(xiàng)目：閾值試驗(yàn)

  • 認(rèn)可資質(zhì)：CNAS CMA

  • 檢測標(biāo)準(zhǔn)：微電子器件試驗(yàn)方法和程序 方法5003 微電路的失效分析程序 GJB 548B-2005

  • 所屬行業(yè)分類：電子電氣

  • 標(biāo)簽： 閾值試驗(yàn) 集成電路/微電子器件

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