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集成電路/微電子器件中掃描電子顯微技術(shù)和電子束顯微分析檢測(cè)

  • 樣品名稱：集成電路/微電子器件

  • 檢測(cè)項(xiàng)目：掃描電子顯微技術(shù)和電子束顯微分析

  • 認(rèn)可資質(zhì)：CNAS CMA

  • 檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)：微電子器件試驗(yàn)方法和程序 方法5003 微電路的失效分析程序 GJB 548B-2005

  • 所屬行業(yè)分類：電子電氣

  • 標(biāo)簽： 掃描電子顯微技術(shù)和電子束顯微分析 集成電路/微電子器件

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