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塑封微電子器件中外部目檢檢測

  • 樣品名稱：塑封微電子器件

  • 檢測項目：外部目檢

  • 認(rèn)可資質(zhì)：CNAS CMA

  • 檢測標(biāo)準(zhǔn)：軍用電子元器件破壞性物理分析方法 工作項目1103 GJB 4027A-2006

  • 所屬行業(yè)分類：電子電氣

  • 標(biāo)簽： 外部目檢 塑封微電子器件

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