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集成電路/微電子器件中兩個或三個引出端之間電測試檢測

  • 樣品名稱：集成電路/微電子器件

  • 檢測項目：兩個或三個引出端之間電測試

  • 認可資質：CNAS CMA

  • 檢測標準：微電子器件試驗方法和程序 方法5003 微電路的失效分析程序 GJB 548B-2005

  • 所屬行業(yè)分類：電子電氣

  • 標簽： 兩個或三個引出端之間電測試 集成電路/微電子器件

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