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半導(dǎo)體集成電路（失效分析）中鍵合強(qiáng)度測試檢測

  • 樣品名稱：半導(dǎo)體集成電路（失效分析）

  • 檢測項目：鍵合強(qiáng)度測試

  • 認(rèn)可資質(zhì)：其它

  • 檢測標(biāo)準(zhǔn)：微電子器件試驗方法和程序 GJB 548B-2005 方法2011.1

  • 服務(wù)地點：全國

  • 適用范圍：電子電氣

  • 標(biāo)簽： 半導(dǎo)體集成電路（失效分析） 鍵合強(qiáng)度測試 微電子器件試驗方法和程序 GJB 548B-2005 方法2011.1

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