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半導體器件集成電路存儲器中輸出高阻態(tài)電流IOZ檢測

  • 樣品名稱:半導體器件集成電路存儲器

  • 檢測項目:輸出高阻態(tài)電流IOZ

  • 認可資質:其它

  • 檢測標準:半導體器件集成電路第2部分:數(shù)字集成電路 GB/T 17574-1998 第Ⅳ篇 測試方法 第2節(jié) 7

  • 服務地點:全國

  • 適用范圍:電子電氣

  • 標簽: 半導體器件集成電路存儲器 輸出高阻態(tài)電流IOZ 半導體器件集成電路第2部分:數(shù)字集成電路 GB/T 17574-1998 第Ⅳ篇 測試方法 第2節(jié) 7

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