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  • LED芯片壽命試驗(yàn)過程全解析

    LED具有體積小，耗電量低、長壽命環(huán)保等優(yōu)點(diǎn)，在實(shí)際生產(chǎn)研發(fā)過程中，需要通過壽命試驗(yàn)對LED芯片的可靠性水平進(jìn)行*價(jià)，并通過質(zhì)量反饋來提高LED芯片的可靠性水平，以保證LED芯片質(zhì)量。

    2016/04/27 更新 分類：實(shí)驗(yàn)管理 分享

  • PCBA壽命評估的誤區(qū)

    壽命評估的價(jià)值大家都比較認(rèn)可，但是由于缺乏經(jīng)驗(yàn)和有效的手段，大多數(shù)都只是停留在機(jī)械部件的壽命評估上面，其它的基本都是簡單驗(yàn)證或者直接忽視。

    2016/08/02 更新 分類：生產(chǎn)品管 分享

  • 加速壽命試驗(yàn)概述

    加速壽命試驗(yàn)概述

    2017/08/28 更新 分類：法規(guī)標(biāo)準(zhǔn) 分享

  • LED芯片壽命試驗(yàn)過程解析

    LED具有體積小，耗電量低、長壽命環(huán)保等優(yōu)點(diǎn)，在實(shí)際生產(chǎn)研發(fā)過程中，需要通過壽命試驗(yàn)對LED芯片的可靠性水平進(jìn)行評價(jià)，并通過質(zhì)量反饋來提高LED芯片的可靠性水平，以保證LED芯片質(zhì)量。

    2020/08/18 更新 分類：科研開發(fā) 分享

  • 6A02鋁合金預(yù)腐蝕疲勞壽命預(yù)測的損傷模型

    本文利用損傷力學(xué)基本原理研究了6A02鋁合金材料的預(yù)腐蝕疲勞壽命退化規(guī)律，為工程上該型材料的預(yù)腐蝕疲勞壽命估算提供參考。

    2022/05/31 更新 分類：科研開發(fā) 分享

  • 動(dòng)車組小線徑線纜重連工藝與壽命

    本文圍繞重連后線纜性能變化及壽命評估的問題，選用壓接和焊接兩種不同的重連工藝，根據(jù)其故障模式分析，設(shè)計(jì)模擬服役環(huán)境的加速壽命試驗(yàn)，對線纜的性能狀態(tài)及疲勞壽命進(jìn)行評估。

    2022/07/22 更新 分類：科研開發(fā) 分享

  • 高加速應(yīng)力可靠性壽命HALT試驗(yàn)簡介

    高加速壽命測試（Highly Accelerated Life Testing，簡稱HALT測試）是一種對電子和機(jī)械裝配件利用快速高、低溫變換的高環(huán)境應(yīng)力來揭示設(shè)計(jì)缺陷和不足的過程。

    2023/02/02 更新 分類：科研開發(fā) 分享

  • 基于多通道融合的滾動(dòng)軸承剩余壽命預(yù)測

    針對工業(yè)生產(chǎn)中滾動(dòng)軸承剩余使用壽命(RUL)預(yù)測任務(wù)中數(shù)據(jù)挖掘不足導(dǎo)致預(yù)測精度低的問題,提出了一種多通道融合的滾動(dòng)軸承剩余壽命預(yù)測方法。

    2024/08/24 更新 分類：科研開發(fā) 分享

  • 結(jié)構(gòu)件的疲勞壽命分析方法

    本文簡單介紹了在結(jié)構(gòu)件疲勞壽命分析方法方面國內(nèi)外的發(fā)展?fàn)顩r,重點(diǎn)講解了結(jié)構(gòu)件壽命疲勞分析方法中的名義應(yīng) 力法、局部應(yīng)力應(yīng)變法、應(yīng)力應(yīng)變場強(qiáng)度法四大方法的估算原理。

    2025/03/23 更新 分類：科研開發(fā) 分享

  • LED燈具加速壽命測試方法

    為了快速發(fā)現(xiàn)LED光源模塊的失效點(diǎn)和薄弱點(diǎn)，通常采用加速壽命試驗(yàn)對其進(jìn)行可靠性研究試驗(yàn)

    2015/11/26 更新 分類：實(shí)驗(yàn)管理 分享