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家電產(chǎn)品的總開關(guān)壽命次數(shù)要求是10000還是30000次?
2022/08/05 更新 分類：法規(guī)標準 分享
在整個產(chǎn)品設(shè)計研發(fā)階段，工程師們需要通過很多手段使產(chǎn)品的種種缺陷提早暴露出來，從而避免在投產(chǎn)后頻頻出現(xiàn)的質(zhì)量問題。
2020/02/19 更新 分類：科研開發(fā) 分享
高加速壽命試驗（Highly Accelerated Life Testing，簡稱HALT試驗）是一種通過施加逐級遞增的環(huán)境應(yīng)力或工作載荷，來加速暴露產(chǎn)品的缺陷和薄弱點的試驗方法。
2024/08/07 更新 分類：實驗管理 分享
通過精密的試驗設(shè)計與條件控制，在一次試驗中同步考核產(chǎn)品的壽命與可靠性，顯著提升驗證效率和經(jīng)濟效益。
2025/08/15 更新 分類：科研開發(fā) 分享
集成電路壽命評估是一門融合了材料科學(xué)、器件物理、電路設(shè)計、統(tǒng)計學(xué)和失效分析的綜合性學(xué)科。它不僅是保障電子產(chǎn)品可靠性的關(guān)鍵環(huán)節(jié)，也是推動IC技術(shù)持續(xù)進步的重要支撐。
2025/09/12 更新 分類：科研開發(fā) 分享
產(chǎn)品壽命可靠性試驗MTBF計算規(guī)范
2018/12/01 更新 分類：科研開發(fā) 分享
評價、分析產(chǎn)品壽命特征的試驗稱為壽命試驗，它是可靠性鑒定與驗收試驗中最重要的一類試驗。
2019/09/06 更新 分類：科研開發(fā) 分享
本文介紹了威布爾分布函數(shù)對應(yīng)的失效密度函數(shù)f(t)、失效函數(shù)F(t)、失效函數(shù)；威布爾分布函數(shù)的形狀參數(shù)、尺度參數(shù)和位置參數(shù)的含義，威布爾分布函數(shù)的三個參數(shù)如何通過雙對數(shù)方式及線性回歸方式進行求解，從而估計產(chǎn)品的各種壽命，為產(chǎn)品制定保修期、售后等提供依據(jù)。
2021/06/26 更新 分類：科研開發(fā) 分享
本文旨在系統(tǒng)性地闡述機電產(chǎn)品加速疲勞壽命試驗的完整流程，包括其理論基礎(chǔ)、關(guān)鍵步驟、試驗設(shè)計方法，并重點詳解試驗后數(shù)據(jù)的處理與分析流程。以工業(yè)機器人減速器為例
2025/11/10 更新 分類：科研開發(fā) 分享
客戶某產(chǎn)品后把手未達預(yù)期使用壽命即發(fā)生斷裂，斷裂位置位于固定端與把手端連接拐角處。
2024/11/16 更新 分類：檢測案例 分享
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