您當前的位置:檢測預警 > 欄目首頁
簡單介紹了光電子元器件可靠性檢測中的物理特性測試、機械完整性試驗、加速老化試驗
2018/05/22 更新 分類:科研開發(fā) 分享
本文簡單介紹電子元器件中物理測試項目,機械完整性試驗項目和加速老化試驗項目三個方面的可靠性檢測。
2018/06/28 更新 分類:科研開發(fā) 分享
可靠性試驗是為了提高或確認產(chǎn)品、裝置及零件的可靠性進行的試驗的總稱。
2019/05/21 更新 分類:科研開發(fā) 分享
電子元器件可靠性需要進行物理特性測試項目、機械完整性試驗項目、加速老化試驗項目
2020/06/23 更新 分類:科研開發(fā) 分享
本文就可靠性試驗未來的9個方向展開了詳細論述
2021/04/08 更新 分類:科研開發(fā) 分享
本文介紹了GJB899A可靠性鑒定驗收試驗大綱內(nèi)容。
2022/06/15 更新 分類:實驗管理 分享
雙85試驗:嚴苛環(huán)境下的可靠性試金石。
2025/09/10 更新 分類:實驗管理 分享
在可靠性工程領域,加速退化試驗(ADT) 是評估高可靠性、長壽命產(chǎn)品性能退化的關鍵技術。
2025/09/25 更新 分類:科研開發(fā) 分享
一般來說為了評價分析電子產(chǎn)品可靠性而進行的試驗稱為可靠性試驗,是為預測從產(chǎn)品出廠到其使用壽命結(jié)束期間的質(zhì)量情況,選定與市場環(huán)境相似度較高的環(huán)境應力后,設定環(huán)境應力程度與施加的時間,主要目的是盡可能在短時間內(nèi),正確評估產(chǎn)品可靠性。
2018/03/06 更新 分類:科研開發(fā) 分享
從硬件角度出發(fā),可靠性測試分為兩類:以行業(yè)標準或者國家標準為基礎的可靠性測試。比如電磁兼容試驗、 氣候類環(huán)境試驗、機械類環(huán)境試驗和安規(guī)試驗等。
2019/09/17 更新 分類:科研開發(fā) 分享