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本文提出了包括內(nèi)外場結(jié)合法、加速可靠性試驗法、合并試驗剖面法等多種工程方法,來降低承研單位的可靠性驗證費用支出,并結(jié)合案例闡明了本文方法的有效性。
2020/02/26 更新 分類:科研開發(fā) 分享
LED具有體積小,耗電量低、長壽命環(huán)保等優(yōu)點,在實際生產(chǎn)研發(fā)過程中,需要通過壽命試驗對LED芯片的可靠性水平進行*價,并通過質(zhì)量反饋來提高LED芯片的可靠性水平,以保證LED芯片質(zhì)量。
2016/04/27 更新 分類:實驗管理 分享
在可靠性強化試驗中,快速溫變循環(huán)是常用的強化試驗。
2016/08/03 更新 分類:實驗管理 分享
LED具有體積小,耗電量低、長壽命環(huán)保等優(yōu)點,在實際生產(chǎn)研發(fā)過程中,需要通過壽命試驗對LED芯片的可靠性水平進行評價,并通過質(zhì)量反饋來提高LED芯片的可靠性水平,以保證LED芯片質(zhì)量。
2020/08/18 更新 分類:科研開發(fā) 分享
本文主要介紹汽車電子設(shè)計中的DV試驗,測試主要包括電氣負載、機械負載、溫度負載、氣候負載、化學負載、連接器、防護類、禁限用物質(zhì)、EMC等等,同時還包括DV軟件。
2022/02/07 更新 分類:科研開發(fā) 分享
加速試驗是基于應(yīng)力累積損傷模型理論,在不改變電子設(shè)備失效機理的前提下,通過提高試驗應(yīng)力來縮短試驗時間,要求產(chǎn)品在較高的試驗應(yīng)力條件下產(chǎn)生與常規(guī)應(yīng)力條件下同等的累積損傷,即加速后的環(huán)境應(yīng)力(包括應(yīng)力量值和持續(xù)時間)與加速前的環(huán)境應(yīng)力對產(chǎn)品失效的累積影響是等效的,以此來達到快速評價產(chǎn)品的可靠性水平的目的。
2024/08/06 更新 分類:科研開發(fā) 分享
可靠性工程師大部分人主要工作就是環(huán)境試驗,而我也是從環(huán)境試驗開始我的可靠性生涯,對于環(huán)境試驗一直保有很深的感情,盡我的可能把做些總結(jié)和大家分享是件樂事,希望對大家
2016/08/03 更新 分類:生產(chǎn)品管 分享
在PCB行業(yè)驗收標準IPC-6012C中,只有三個章節(jié)的試驗牽涉到可靠性方面的要求,主要是介質(zhì)耐電壓、濕熱絕緣電阻(MIR)和熱沖擊(Thermal Shock),前兩者主要評估板材可靠性,后者主要評估電鍍銅可靠性。
2016/05/26 更新 分類:實驗管理 分享
reliability growth test通過對產(chǎn)品施加真實的或模擬的綜合環(huán)境應(yīng)力,暴露產(chǎn)品的潛在缺陷并采取糾正措施,使產(chǎn)品的可靠性達到預(yù)定要求的一種實驗。它是一個有計劃的試驗--分析--改進
2016/11/21 更新 分類:法規(guī)標準 分享
本文介紹了可靠性試驗的檢測類型及檢測標準。
2022/08/26 更新 分類:科研開發(fā) 分享