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本文介紹了可靠性鑒定試驗(yàn)要求、試驗(yàn)方案和故障分類(lèi)。
2024/07/15 更新 分類(lèi)：科研開(kāi)發(fā) 分享
本文介紹了常見(jiàn)的環(huán)境可靠性測(cè)試項(xiàng)目。
2024/08/27 更新 分類(lèi)：科研開(kāi)發(fā) 分享
本文介紹了環(huán)境試驗(yàn)與可靠性試驗(yàn)的異同。
2024/09/23 更新 分類(lèi)：科研開(kāi)發(fā) 分享
本文介紹了塑封類(lèi)IC器件封裝可靠性驗(yàn)證流程。
2024/10/06 更新 分類(lèi)：科研開(kāi)發(fā) 分享
本文介紹了可靠性試驗(yàn)樣本數(shù)量及計(jì)算工具。
2024/10/15 更新 分類(lèi)：科研開(kāi)發(fā) 分享
本文介紹了可靠性MTBF序貫截尾試驗(yàn)方案。
2024/11/06 更新 分類(lèi)：科研開(kāi)發(fā) 分享
本文介紹了可靠性研制試驗(yàn)及其基本要求。
2024/11/06 更新 分類(lèi)：科研開(kāi)發(fā) 分享
本文介紹了開(kāi)展可靠性試驗(yàn)的意義和其工作項(xiàng)目。
2024/11/19 更新 分類(lèi)：科研開(kāi)發(fā) 分享
本文介紹了可靠性研制試驗(yàn)要點(diǎn)及注意事項(xiàng)。
2024/11/20 更新 分類(lèi)：科研開(kāi)發(fā) 分享
本文介紹了可靠性定型試驗(yàn)的程序、條件與實(shí)施。
2024/11/20 更新 分類(lèi)：科研開(kāi)發(fā) 分享
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