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加速壽命試驗(yàn)（ALT）中加速應(yīng)力的選取要點(diǎn)與上限確定方法，強(qiáng)調(diào)機(jī)理保真，以保障試驗(yàn)數(shù)據(jù)有效與外推準(zhǔn)確。

2025/09/11 更新 分類：科研開發(fā) 分享

集成電路壽命評估是一門融合了材料科學(xué)、器件物理、電路設(shè)計、統(tǒng)計學(xué)和失效分析的綜合性學(xué)科。它不僅是保障電子產(chǎn)品可靠性的關(guān)鍵環(huán)節(jié)，也是推動IC技術(shù)持續(xù)進(jìn)步的重要支撐。

2025/09/12 更新 分類：科研開發(fā) 分享

產(chǎn)品可靠性不是檢驗(yàn)出來的，而是設(shè)計進(jìn)去、制造出來、管理出來的。全壽命周期可靠性工程是一個需要前瞻性規(guī)劃、跨部門緊密協(xié)作、并持續(xù)投入資源的系統(tǒng)性工程。

2025/09/16 更新 分類：科研開發(fā) 分享

本文將深入探討PCB貯存壽命的核心概念，詳盡分析其影響因素，并系統(tǒng)介紹業(yè)界主流的科學(xué)評估方法，旨在為PCB制造商、電子組裝廠（EMS）以及質(zhì)量控制人員提供一套完整的理論依據(jù)和實(shí)踐指南。

2025/10/18 更新 分類：科研開發(fā) 分享

本文將深入探討機(jī)械臂疲勞試驗(yàn)的理論基礎(chǔ)、具體方法、執(zhí)行步驟，并結(jié)合作者經(jīng)歷的一個工業(yè)案例，全面闡述如何對機(jī)械臂進(jìn)行壽命評估。

2025/10/31 更新 分類：科研開發(fā) 分享

醫(yī)用分子篩制氧系統(tǒng)使用期限，電子類部件和機(jī)械類部件已經(jīng)驗(yàn)證，分子篩的壽命如何驗(yàn)證？

2025/12/03 更新 分類：法規(guī)標(biāo)準(zhǔn) 分享

如果被忽視，嚴(yán)重的氣穴將限制閥門的估計壽命。

2015/10/22 更新 分類：實(shí)驗(yàn)管理 分享

加速壽命試驗(yàn)是指采用加大應(yīng)力的方法促使樣品在短期內(nèi)失效，以預(yù)測在正常工作條件或儲存條件下的可靠性，但不改變受試樣品的失效分布。

2016/03/08 更新 分類：法規(guī)標(biāo)準(zhǔn) 分享

高分子材料壽命預(yù)測項(xiàng)目、方法、標(biāo)準(zhǔn)與設(shè)備

2017/10/10 更新 分類：法規(guī)標(biāo)準(zhǔn) 分享

評價、分析產(chǎn)品壽命特征的試驗(yàn)稱為壽命試驗(yàn)，它是可靠性鑒定與驗(yàn)收試驗(yàn)中最重要的一類試驗(yàn)。

2019/09/06 更新 分類：科研開發(fā) 分享