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【問(wèn)】如何應(yīng)對(duì)生產(chǎn)潔凈區(qū)壓差、溫濕度異常?
2024/07/03 更新 分類:法規(guī)標(biāo)準(zhǔn) 分享
不同潔凈度等級(jí)的房間之間,要求建立壓力梯級(jí),防止交叉污染。
2024/10/11 更新 分類:生產(chǎn)品管 分享
本文介紹了如何設(shè)定潔凈室壓差報(bào)警?如何打開緩沖間的門?
2025/02/24 更新 分類:生產(chǎn)品管 分享
可靠性設(shè)計(jì)之熱設(shè)計(jì)
2022/11/12 更新 分類:科研開發(fā) 分享
本文介紹了熱熔壓敏膠(HMPSA)技術(shù)、應(yīng)用與專利。
2024/10/15 更新 分類:行業(yè)研究 分享
掃描電鏡(SEM)是介于透射電鏡和光學(xué)顯微鏡之間的一種微觀形貌觀察手段,可直接利用樣品表面材料的物質(zhì)性能進(jìn)行微觀成像。 掃描電鏡的優(yōu)點(diǎn) ①有較高的放大倍數(shù),20-20萬(wàn)倍之間連
2017/12/27 更新 分類:實(shí)驗(yàn)管理 分享
掃描電鏡(SEM)是介于透射電鏡和光學(xué)顯微鏡之間的一種微觀形貌觀察手段,可直接利用樣品表面材料的物質(zhì)性能進(jìn)行微觀成像。掃描電鏡以其特有的優(yōu)點(diǎn),影響掃描電鏡(SEM)的幾大要素。
2021/04/02 更新 分類:法規(guī)標(biāo)準(zhǔn) 分享
分析電路的組成部分在規(guī)定的使用溫度范圍內(nèi)其參數(shù)偏差和寄生參數(shù)對(duì)電路性能容差的影響,并根據(jù)分析結(jié)果提出相應(yīng)的改進(jìn)措施。
2020/02/27 更新 分類:科研開發(fā) 分享
本文分析了電路的組成部分在規(guī)定的使用溫度范圍內(nèi)其參數(shù)偏差和寄生參數(shù)對(duì)電路性能容差的影響,并根據(jù)分析結(jié)果提出相應(yīng)的改進(jìn)措施。
2021/08/22 更新 分類:科研開發(fā) 分享
產(chǎn)品工作長(zhǎng)度不符合新標(biāo)準(zhǔn)要求,可否依據(jù)原檢驗(yàn)報(bào)告數(shù)據(jù)直接修改標(biāo)稱值和允差,以符合新標(biāo)準(zhǔn)要求?
2021/11/11 更新 分類:法規(guī)標(biāo)準(zhǔn) 分享