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半導體器件可靠性與失效分析
2020/06/05 更新 分類：科研開發(fā) 分享
全面了解元器件，看這一篇就夠了！
2020/06/18 更新 分類：科研開發(fā) 分享
本文主要介紹了最容易引發(fā)電路故障的元器件。
2020/10/14 更新 分類：科研開發(fā) 分享
關鍵元器件—安規(guī)CB認證參考標準匯總如下：
2021/06/15 更新 分類：法規(guī)標準 分享
本文對常用電子元器件的檢測經驗和方法進行詳細介紹。
2021/10/12 更新 分類：科研開發(fā) 分享
本文主要介紹了元器件貯存期的定義和計算規(guī)則。
2021/12/28 更新 分類：科研開發(fā) 分享
本文主要紹了各類元器件失效機理。
2022/02/14 更新 分類：科研開發(fā) 分享
本文主要介紹了功率器件的失效分析及封裝工藝優(yōu)化研究。
2022/03/02 更新 分類：科研開發(fā) 分享
本文對SBGA器件裝配一次合格率低的原因進行了分析和優(yōu)化。
2022/03/07 更新 分類：法規(guī)標準 分享
本文總結了MOSFET器件選型的10步法則
2022/04/14 更新 分類：科研開發(fā) 分享
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