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  • 磁光晶體材料研究獲進(jìn)展

    中國(guó)科學(xué)院上海光學(xué)精密機(jī)械研究所微納光電子功能材料實(shí)驗(yàn)室激光晶體研究團(tuán)隊(duì)在CeF3晶體研究基礎(chǔ)上，開展了Nd:CeF3晶體生長(zhǎng)和磁光性能研究。該研究對(duì)探索新型紫外磁光晶體材料具有參考價(jià)值。

    2021/07/08 更新 分類：科研開發(fā) 分享

  • 一文讀懂半導(dǎo)體材料與檢測(cè)

    本文介紹了晶體結(jié)構(gòu),晶面與晶向,晶體中的缺陷,晶體中的雜質(zhì),生長(zhǎng)單晶硅及單晶硅性能測(cè)試。

    2021/08/23 更新 分類：科研開發(fā) 分享

  • 有機(jī)晶體生長(zhǎng)方法研究方面取得重要進(jìn)展

    晶體材料國(guó)家重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室劉陽(yáng)和陶緒堂課題組經(jīng)過(guò)悉心鉆研，開發(fā)了一種全新的“微距空氣升華法”原位生長(zhǎng)有機(jī)晶體。

    2018/04/12 更新 分類：科研開發(fā) 分享

  • 人工晶體材料在國(guó)內(nèi)外醫(yī)療領(lǐng)域的應(yīng)用現(xiàn)狀

    本文主要介紹了部分人工晶體材料在醫(yī)療領(lǐng)域中的應(yīng)用現(xiàn)狀，并對(duì)醫(yī)療領(lǐng)域的應(yīng)用現(xiàn)狀進(jìn)行簡(jiǎn)單的綜述。

    2021/08/16 更新 分類：行業(yè)研究 分享

  • TEM在晶體結(jié)構(gòu)分析中的三大應(yīng)用

    相對(duì)于 X-射線，電子束由于具有更短的波長(zhǎng)以及更強(qiáng)的衍射，因此電子衍射應(yīng)用于納米晶體的結(jié)構(gòu)分析具有特別的意義，透射電鏡不僅可對(duì)納米晶體進(jìn)行高分辨成像而且可進(jìn)行電子衍射分析，已成為納米晶體材料不可或缺的研究方法，包括判斷納米結(jié)構(gòu)的生長(zhǎng)方向、解析納米晶體的晶胞參數(shù)及原子的排列結(jié)構(gòu)等。

    2021/02/01 更新 分類：科研開發(fā) 分享

  • 科研人員提出晶體電光系數(shù)的多晶粉末測(cè)試方法

    中國(guó)科學(xué)院福建物質(zhì)結(jié)構(gòu)研究所中科院光電材料化學(xué)與物理重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室研究員葉寧課題組受到高效的粉末倍頻測(cè)試方法之于非線性光學(xué)晶體探索的啟發(fā)，提出晶體電光系數(shù)的粉末測(cè)試方法，實(shí)現(xiàn)晶體電光性能的初步表征。

    2020/09/27 更新 分類：科研開發(fā) 分享

  • Nat. Chem.：多晶材料的高通量相分析

    SerialED的全自動(dòng)化協(xié)議消除了晶體搜索和數(shù)據(jù)收集中的人為干預(yù)。基于SerialED協(xié)議，Wang等人開發(fā)了高通量的SerialRED方法，該方法可以自動(dòng)篩選晶體并收集一個(gè)產(chǎn)品中數(shù)百個(gè)晶體的三維ED數(shù)據(jù)。

    2023/02/06 更新 分類：科研開發(fā) 分享

  • 你應(yīng)該知道的碳材料科學(xué)基礎(chǔ)

    本文會(huì)從原子級(jí)別、晶體級(jí)別、微觀級(jí)別三個(gè)尺度來(lái)了解碳材料。

    2019/09/22 更新 分類：科研開發(fā) 分享

  • 晶體材料內(nèi)部衍射用基準(zhǔn)零應(yīng)力鋁粉標(biāo)準(zhǔn)試樣的制備及校準(zhǔn)

    研究人員介紹了一種內(nèi)部零應(yīng)力鋁粉標(biāo)準(zhǔn)試樣的制備方法及校準(zhǔn)研究，以期為提高殘余應(yīng)力的測(cè)試結(jié)果準(zhǔn)確性提供參考。

    2024/11/27 更新 分類：科研開發(fā) 分享

  • 掃描電鏡在光子晶體方面的應(yīng)用

    掃描電子顯微鏡是光子晶體研究中不可缺少的分析儀器，主要用于：原材料的篩選（顆粒尺寸范圍，顆粒尺寸統(tǒng)計(jì)，快速篩樣）和組裝過(guò)程分析

    2019/09/16 更新 分類：科研開發(fā) 分享