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研究人員對(duì)可用于核電涂層熱傳導(dǎo)率測(cè)試的GB標(biāo)準(zhǔn)與ASTM標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行了分析和比較，介紹了不同標(biāo)準(zhǔn)的基本程序及其差異。

2025/03/05 更新 分類(lèi)：法規(guī)標(biāo)準(zhǔn) 分享

熱分析技術(shù)是在溫度程序控制下研究材料的各種轉(zhuǎn)變和反應(yīng)，是一種十分重要的分析測(cè)試方法。常用的熱分析方法

2019/07/15 更新 分類(lèi)：法規(guī)標(biāo)準(zhǔn) 分享

本文介紹了國(guó)內(nèi)外相變儲(chǔ)能材料熱物性的三種主流測(cè)試方法，對(duì)比分析了差示掃描量熱法（DSC）、參比溫度曲線(xiàn)法（T-History）和動(dòng)態(tài)熱流計(jì)法（DHFM）三種主流相變材料熱物性測(cè)試方法的特點(diǎn)

2019/04/03 更新 分類(lèi)：法規(guī)標(biāo)準(zhǔn) 分享

半導(dǎo)體材料檢測(cè)是對(duì)半導(dǎo)體材料的特性參數(shù)進(jìn)行分析測(cè)試的技術(shù)，具體涉及到哪些材料的檢測(cè)，目前常見(jiàn)的檢測(cè)技術(shù)有哪些？我們不妨一起來(lái)看看。

2022/08/11 更新 分類(lèi)：科研開(kāi)發(fā) 分享

目前，納米材料已成為材料研發(fā)以及產(chǎn)業(yè)化最基本的構(gòu)成部分，其中納米材料的粒度則是其最重要的表征參數(shù)之一。本文根據(jù)不同的測(cè)試原理闡述了8種納米材料粒度測(cè)試方法，并分析了不同粒度測(cè)試方法的優(yōu)缺點(diǎn)及適用范圍。

2019/09/22 更新 分類(lèi)：科研開(kāi)發(fā) 分享

TPE，TPR材料用于食品接觸，需要看具體使用情況，需要什么測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)。進(jìn)而評(píng)估是否適用。

2021/12/23 更新 分類(lèi)：科研開(kāi)發(fā) 分享

材料分析及測(cè)試在汽車(chē)電子產(chǎn)品研發(fā)中的應(yīng)用。

2018/05/15 更新 分類(lèi)：科研開(kāi)發(fā) 分享

材料分析測(cè)試技術(shù)和儀器設(shè)備眾多，并且各有優(yōu)點(diǎn)，隨其應(yīng)用范圍愈廣，現(xiàn)有的測(cè)試表征手段越來(lái)越不能滿(mǎn)足要求，發(fā)展新的表征方法、測(cè)試技術(shù)勢(shì)在必行

2016/11/01 更新 分類(lèi)：法規(guī)標(biāo)準(zhǔn) 分享

各類(lèi)材料化學(xué)分析儀器盤(pán)點(diǎn)

2015/07/01 更新 分類(lèi)：實(shí)驗(yàn)管理 分享

我們逐一進(jìn)行分析，芯片設(shè)計(jì)主要從EDA、IP、設(shè)計(jì)三個(gè)方面來(lái)分析；芯片制造主要從設(shè)備、工藝和材料三個(gè)方面來(lái)分析；封裝測(cè)試則從封裝設(shè)計(jì)、產(chǎn)品封裝和芯片測(cè)試幾方面來(lái)分析。

2023/01/08 更新 分類(lèi)：科研開(kāi)發(fā) 分享