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本文簡述了電子元器件篩選的必要性,分析了電子元器件的篩選項目和應(yīng)力條件的選擇原則,介紹了幾種常用的篩選項目和半導(dǎo)體的典型篩選方案設(shè)計。
2019/04/08 更新 分類:科研開發(fā) 分享
隨機振動應(yīng)力篩選是一種有效的提前暴露產(chǎn)品缺陷的方式,在之前因為工裝振動放大以及控制點、監(jiān)測點的選擇不適宜,特別是在正式振動之前的摸底振動(功率譜“挖坑”)不充分或者未進行,容易導(dǎo)致電子設(shè)備單板上部件過振動,篩選應(yīng)力超過設(shè)計極限,損壞設(shè)備。
2021/04/25 更新 分類:科研開發(fā) 分享
HALT/HASS試驗技術(shù)能高度壓縮試驗時間,使產(chǎn)品的潛在缺陷在設(shè)計和制造階段得以暴露,為能根治設(shè)計和制造薄弱環(huán)節(jié)提供確切的改進信息
2019/06/19 更新 分類:法規(guī)標(biāo)準(zhǔn) 分享
本文通過模擬過電應(yīng)力(靜電、浪涌、直流)來分析半導(dǎo)體器件在各種極端電應(yīng)力環(huán)境下失效的現(xiàn)象和機理,及如何利用好TVS降低過電應(yīng)力危害。
2021/11/24 更新 分類:科研開發(fā) 分享
根據(jù)以往產(chǎn)品篩選的試驗數(shù)據(jù)積累,確定對剔除早期失效品篩選有效(在非破壞性應(yīng)力作用下,淘汰率較高)的試驗項目
2016/07/20 更新 分類:實驗管理 分享
電子產(chǎn)品的失效,大約70%是由環(huán)境應(yīng)力引起的。因此,環(huán)境可靠性測試是驗證產(chǎn)品在使用、運輸或儲存等所有環(huán)境下,能否保持其功能正常運行的重要監(jiān)控手段。環(huán)境應(yīng)力測試主要分為氣候環(huán)境應(yīng)力和機械環(huán)境應(yīng)力兩個方面。本文主要介紹一下環(huán)境可靠性測試的常用測試方法。
2021/03/26 更新 分類:法規(guī)標(biāo)準(zhǔn) 分享
依據(jù)GJB450A《裝備可靠性工作通用要求》分類,可靠性試驗可以分為環(huán)境應(yīng)力篩選、可靠性研制試驗、可靠性增長試驗、可靠性鑒定試驗、可靠性驗收試驗、壽命試驗。
2018/03/06 更新 分類:法規(guī)標(biāo)準(zhǔn) 分享
文章結(jié)合理論研究和實際案例,提出了一套完整的運輸環(huán)境應(yīng)力驗證體系,為產(chǎn)品包裝設(shè)計、運輸方案選擇和質(zhì)量管理提供參考依據(jù)。
2026/01/14 更新 分類:科研開發(fā) 分享
筆者以低溫高錳鋼為研究對象,采用恒載荷應(yīng)力腐蝕試驗研究其在模擬人工海水溶液中的應(yīng)力腐蝕行為,為低溫高錳鋼的應(yīng)用生產(chǎn)提供基礎(chǔ)數(shù)據(jù)支持。
2024/11/15 更新 分類:科研開發(fā) 分享
本篇主要介紹導(dǎo)致電子產(chǎn)品失效的幾種主要環(huán)境應(yīng)力。
2021/04/07 更新 分類:生產(chǎn)品管 分享