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洛氏硬度測(cè)試是現(xiàn)在最常用的一種硬度測(cè)試方法,該方法測(cè)試過程簡單,并且最終結(jié)果可以直接從測(cè)試機(jī)器上獲得。
2019/01/10 更新 分類:法規(guī)標(biāo)準(zhǔn) 分享
電壓跌落測(cè)試項(xiàng)目,電壓跌落測(cè)試
2019/03/04 更新 分類:法規(guī)標(biāo)準(zhǔn) 分享
本文將對(duì)比汽車電子和一般IT產(chǎn)品兩種不同領(lǐng)域電子產(chǎn)品的電磁兼容測(cè)試并對(duì)其測(cè)試項(xiàng)目、測(cè)試方法以及測(cè)試設(shè)備進(jìn)行對(duì)比分析
2019/12/02 更新 分類:科研開發(fā) 分享
OTA (Over The Air )是驗(yàn)證移動(dòng)通信空中接口的發(fā)射功率和接收性能的一種測(cè)試。它著重對(duì)整機(jī)進(jìn)行輻射性能方面的測(cè)試,屬于三維測(cè)試,能反映整機(jī)的輻射性能。
2020/06/22 更新 分類:法規(guī)標(biāo)準(zhǔn) 分享
傳導(dǎo)發(fā)射測(cè)試,通常也會(huì)被成為騷擾電壓測(cè)試,只要有電源線的產(chǎn)品都會(huì)涉及到。本文介紹傳傳導(dǎo)發(fā)射測(cè)試的標(biāo)準(zhǔn)、方法、結(jié)果判定等。
2021/04/08 更新 分類:法規(guī)標(biāo)準(zhǔn) 分享
本文主要講了芯片測(cè)試概述,芯片測(cè)試流程及測(cè)試中的問題。
2021/06/29 更新 分類:科研開發(fā) 分享
本文主要介紹了FCC SAR 測(cè)試豁免最新要求:1mW (0dBm) 測(cè)試豁免及 SAR測(cè)試豁免。
2022/01/17 更新 分類:法規(guī)標(biāo)準(zhǔn) 分享
本文通過對(duì)儀器測(cè)試原理的探究和試驗(yàn)參數(shù)設(shè)置以及測(cè)試關(guān)鍵點(diǎn)進(jìn)行總結(jié),為實(shí)驗(yàn)室DMA的測(cè)試能力的拓展提供參考和借鑒意義。
2022/06/20 更新 分類:科研開發(fā) 分享
硬度測(cè)試非常有用,可用它來評(píng)估材料性能、并在生產(chǎn)過程及研發(fā)工作中進(jìn)行質(zhì)量控制。必須根據(jù)具體應(yīng)用選擇硬度測(cè)試方法。試樣制備等級(jí)的選擇取決于材料特性和測(cè)試載荷。
2023/01/13 更新 分類:科研開發(fā) 分享
傳導(dǎo)騷擾測(cè)試(Conducted Emission),簡稱CE測(cè)試,通常也會(huì)被稱為傳導(dǎo)發(fā)射測(cè)試或騷擾電壓測(cè)試等。
2023/02/03 更新 分類:科研開發(fā) 分享