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本文主要介紹了元器件失效都有哪些,在安排測(cè)試篩選先后次序時(shí)的方案,決定元器件測(cè)試篩選先后次序的原則,篩選方案的設(shè)計(jì)原則,元器件篩選方案的制訂原則及幾種常用的篩選項(xiàng)目。
2022/02/09 更新 分類(lèi):科研開(kāi)發(fā) 分享
本文介紹元器件二次(補(bǔ)充)篩選實(shí)施應(yīng)注意的七項(xiàng)問(wèn)題。
2020/10/21 更新 分類(lèi):科研開(kāi)發(fā) 分享
元器件篩選次序是有學(xué)問(wèn)的,請(qǐng)注意!
2016/12/23 更新 分類(lèi):法規(guī)標(biāo)準(zhǔn) 分享
本文簡(jiǎn)述了電子元器件篩選的必要性,分析了電子元器件的篩選項(xiàng)目和應(yīng)力條件的選擇原則,介紹了幾種常用的篩選項(xiàng)目和半導(dǎo)體的典型篩選方案設(shè)計(jì)。
2019/04/08 更新 分類(lèi):科研開(kāi)發(fā) 分享
電子元器件可靠性是可靠性工程的基礎(chǔ),也是可靠性工程中最為復(fù)雜的工作。從生產(chǎn),到二次篩選,再到裝機(jī)調(diào)試和最后投入運(yùn)用這一過(guò)程當(dāng)中,電子元器件的可靠性保障都是十分重要的。本文匯總一下元器件二次篩選過(guò)程中的可靠性保障。
2021/01/13 更新 分類(lèi):科研開(kāi)發(fā) 分享
本文只從降額應(yīng)用和“二次”篩選等幾個(gè)方面淺談一些體會(huì)和經(jīng)驗(yàn),希望能對(duì)從事相關(guān)工作的人員有所幫助和借鑒。
2020/03/27 更新 分類(lèi):科研開(kāi)發(fā) 分享
環(huán)境應(yīng)力篩選是指對(duì)產(chǎn)品施加規(guī)定的環(huán)境應(yīng)力,來(lái)發(fā)現(xiàn)和剔除制造過(guò)程中的不良零件、元器件和工藝缺陷等早期故障的一種工序或方法。
2024/07/18 更新 分類(lèi):科研開(kāi)發(fā) 分享
環(huán)境應(yīng)力篩選是指對(duì)產(chǎn)品施加規(guī)定的環(huán)境應(yīng)力,來(lái)發(fā)現(xiàn)和剔除制造過(guò)程中的不良零件、元器件和工藝缺陷等早期故障的一種工序或方法。
2024/10/11 更新 分類(lèi):科研開(kāi)發(fā) 分享
本文主要介紹了元器件失效類(lèi)型,老化篩選的作用和內(nèi)容及老化篩條件和方法。
2022/02/15 更新 分類(lèi):科研開(kāi)發(fā) 分享
決定元器件測(cè)試篩選先后次序的原則:失效概率最大的篩選方法首先做;當(dāng)一種失效模式可以與其他失效模式產(chǎn)生關(guān)聯(lián)時(shí),應(yīng)將此失效模式的篩選放在前面;容易觸發(fā)失效的篩選方法首先進(jìn)行;便宜的先做;時(shí)間長(zhǎng)的后做;若有耐電壓、絕緣電阻測(cè)試要求,耐壓在前、絕緣在后,功能參數(shù)最后;若有擊穿電壓和漏電流測(cè)試要求,擊穿電壓在前,漏電流在后,功能參數(shù)最后。
2021/07/13 更新 分類(lèi):科研開(kāi)發(fā) 分享