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本文主要介紹了最容易引發(fā)電路故障的元器件。
2020/10/14 更新 分類：科研開發(fā) 分享
本文主要介紹了元器件貯存期的定義和計算規(guī)則。
2021/12/28 更新 分類：科研開發(fā) 分享
本文介紹了電子元器件鍍層的種類與檢驗方法。
2023/10/26 更新 分類：科研開發(fā) 分享
本文介紹了各種電子元器件損壞后的現(xiàn)象。
2023/12/23 更新 分類：科研開發(fā) 分享
本文介紹了假冒偽劣元器件的部分檢查方法。
2024/03/05 更新 分類：科研開發(fā) 分享
本文介紹了元器件損壞后的問題排查路徑。
2024/04/07 更新 分類：科研開發(fā) 分享
本文介紹了元器件在搪錫時的質(zhì)量控制要求。
2024/04/22 更新 分類：科研開發(fā) 分享
本文介紹了元器件裝聯(lián)中成形的質(zhì)量控制要求。
2024/04/29 更新 分類：科研開發(fā) 分享
本文介紹了元器件裝聯(lián)中安裝的質(zhì)量控制要求。
2024/05/06 更新 分類：科研開發(fā) 分享
本文介紹了元器件裝聯(lián)中手工焊接的質(zhì)量控制要求。
2024/05/27 更新 分類：科研開發(fā) 分享
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